En microscop\u00eda, la profundidad de campo es en muchos casos una m\u00e9trica emp\u00edrica. En la pr\u00e1ctica, las correlaciones entre la apertura num\u00e9rica, la resoluci\u00f3n y la ampliaci\u00f3n determinan este par\u00e1metro. Con sus opciones de ajuste, los microscopios actuales crean un equilibrio entre la profundidad de campo y la resoluci\u00f3n que es \u00f3ptima para la impresi\u00f3n visual – dos par\u00e1metros que en teor\u00eda est\u00e1n inversamente correlacionados.<\/p>\n
En las normas DIN \/ ISO, la profundidad de campo del lado del esp\u00e9cimen se define como la \u00abprofundidad axial del espacio en ambos lados del plano del esp\u00e9cimen en el que el esp\u00e9cimen se puede mover sin p\u00e9rdida detectable de nitidez en el enfoque de la imagen, mientras que las posiciones Del plano de la imagen y el objetivo. \u00abSin embargo, la norma no da ninguna pista sobre c\u00f3mo medir el umbral de detecci\u00f3n del deterioro del enfoque. Particularmente a bajas ampliaciones, la profundidad de campo puede aumentarse significativamente deteni\u00e9ndose, es decir reduciendo la abertura num\u00e9rica. Esto se hace generalmente usando el diafragma de la abertura o un diafragma que est\u00e9 en un plano conjugado al diafragma de la abertura. Sin embargo, cuanto menor sea la apertura num\u00e9rica, menor ser\u00e1 la resoluci\u00f3n lateral. Por lo tanto, se trata de encontrar el balance \u00f3ptimo de resoluci\u00f3n y profundidad de campo dependiendo de la estructura de la muestra.<\/p>\n
Textura de la muestra\u00a0<\/strong><\/p>\n La textura de la superficie del esp\u00e9cimen abarca todas sus caracter\u00edsticas y caracter\u00edsticas. Estos incluyen las caracter\u00edsticas de color y brillo de la superficie. Como se ha descrito anteriormente, el principio de la variaci\u00f3n del enfoque se basa en el enfoque met\u00f3dico. Cuanto mejor el esp\u00e9cimen se puede dividir en \u00e1reas agudas y fuera de foco, mejores ser\u00e1n los resultados del modelo de superficie. Este m\u00e9todo es particularmente adecuado para texturas que tienen un buen contraste. Como en muchas \u00e1reas de aplicaci\u00f3n de la microscop\u00eda, la iluminaci\u00f3n se da un estado especialmente importante, ya que con frecuencia determina el \u00e9xito o fracaso. Seleccionar una iluminaci\u00f3n adecuada permite documentar incluso un esp\u00e9cimen con poca textura. Por ejemplo, puede seleccionar una iluminaci\u00f3n incidente oblicua que hace visibles incluso las estructuras ocultas.<\/p>\n Resoluci\u00f3n mec\u00e1nica en direcci\u00f3n vertical\u00a0<\/strong><\/p>\n El tercer factor que influye en esta ecuaci\u00f3n es la resoluci\u00f3n mec\u00e1nica en la direcci\u00f3n vertical. Este t\u00e9rmino significa los pasos posibles m\u00e1s peque\u00f1os en la direcci\u00f3n z del accionamiento de enfoque, que usualmente es motorizado. Para aprovechar al m\u00e1ximo la capacidad de rendimiento de la \u00f3ptica, el paso m\u00e1s peque\u00f1o posible debe ser menor que la profundidad de campo actualmente utilizada, ya que de lo contrario se pierden datos de imagen. Un accionamiento de enfoque motorizado con una resoluci\u00f3n de 10 \u03bcm, por ejemplo, es adecuado a una profundidad de campo de 15 \u03bcm.\u00a0Las resoluciones laterales y verticales que son posibles con un sistema Leica DVM dependen de varios factores de influencia, como la estructura de la superficie o el iluminador, y por lo tanto deben determinarse en funci\u00f3n de la aplicaci\u00f3n. La interpolaci\u00f3n alcanza una resoluci\u00f3n vertical de la mitad de la profundidad de campo aplicada. La resoluci\u00f3n lateral se determina por la apertura num\u00e9rica de la ampliaci\u00f3n utilizada.<\/p>\n Profundidad de campo – la f\u00f3rmula de Berek<\/strong><\/p>\n El autor de la primera publicaci\u00f3n sobre el tema de la profundidad de campo visualmente percibida fue Max Berek, que public\u00f3 los resultados de sus extensos experimentos ya en 1927. La f\u00f3rmula de Berek da valores pr\u00e1cticos para la profundidad visual de campo y por lo tanto todav\u00eda se utiliza hoy en d\u00eda. En forma simplificada, es como sigue:<\/p>\n <\/p>\n TVIS<\/strong>: Profundidad de campo visualmente percibida<\/p>\n N<\/strong>: \u00cdndice de refracci\u00f3n del medio en el que se encuentra el esp\u00e9cimen. Si la muestra es movida, el \u00edndice de refracci\u00f3n del medio que forma la distancia de trabajo cambiante se introduce en la ecuaci\u00f3n<\/p>\n .\u039b:<\/strong> Longitud de onda de la luz utilizada; Para luz blanca, lambda = 0,55 \u03bcmNA: Apertura num\u00e9rica del esp\u00e9cimen<\/p>\n MTOT VIS<\/strong>: Ampliaci\u00f3n visual total del microscopio<\/p>\n Si en la ecuaci\u00f3n anterior reemplazamos la magnificaci\u00f3n visual total con la relaci\u00f3n de la ampliaci\u00f3n \u00fatil (MTOT VIS = 500 a 1.000 NA), se hace evidente que en una primera aproximaci\u00f3n, la profundidad de campo es inversamente proporcional al cuadrado de La apertura num\u00e9rica.<\/p>\n Iluminaci\u00f3n\u00a0<\/strong><\/p>\n La selecci\u00f3n de la iluminaci\u00f3n adecuada es fundamental para el \u00e9xito del examen. El dise\u00f1o modular de los microscopios digitales Leica le permite combinar la \u00f3ptica seleccionada con la iluminaci\u00f3n \u00f3ptima para la aplicaci\u00f3n. Existen los siguientes m\u00e9todos para elegir:<\/p>\n Iluminaci\u00f3n incidente variable oblicua\u00a0<\/em><\/p>\n Este m\u00e9todo cambia la direcci\u00f3n de la iluminaci\u00f3n de vertical a lateral. Este enfoque es particularmente adecuado para visualizar rasgu\u00f1os o peque\u00f1os rebajos.<\/p>\n Difusor\u00a0Para superficies brillantes, el rango din\u00e1mico de la c\u00e1mara es insuficiente en muchos casos y muchas \u00e1reas de la muestra est\u00e1n sobreexpuestas. Un difusor proporciona una reducci\u00f3n fiable del \u00e1rea sobreexpuesta.<\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n Iluminador coaxial<\/strong><\/p>\n Un iluminador coaxial se utiliza para superficies muy brillantes o reflectantes, como obleas o secciones met\u00e1licas.<\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n Luz polarizada<\/strong><\/p>\n La luz polarizada se utiliza para suprimir reflejos o para la documentaci\u00f3n de materiales pl\u00e1sticos.<\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n Iluminador coaxial con luz dirigida <\/strong><\/p>\n Aqu\u00ed, la luz dirigida crea una impresi\u00f3n tridimensional de la muestra. Esto es \u00fatil en muchos casos para determinar la superficie con mayor precisi\u00f3n.<\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n![\"\"](\"https:\/\/i0.wp.com\/www.bairesac.com\/blog\/wp-content\/uploads\/2017\/07\/csm_Formula_04_b2bfaa1c10.gif\")
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